В свете перспектив создания и внедрения электронных паспортов, удостоверений личности и электронных платежных средств, все более остро встает вопрос о создании принципиально новых методов идентификации, которые невозможно подделать или клонировать. По мнению ученых из Массачусетского технологического института в качестве таких уникальных идентификаторов могут выступать крошечные дефекты, возникающие при производстве чипов и микросхем на атомном типе. Как ни совершенны технологии изготовления полупроводников в настоящее время, эти крошечные дефекты являются неотъемлемой частью каждого экземпляра полупроводникового прибора, хотя, практически не влияют на его общую работоспособность.
Даже при широкомасштабном массовом производстве одинаковых полупроводниковых приборов невозможно найти два совершенно идентичных прибора. Эта разница может возникать вследствие использования проводников и соединений различной толщины, неравномерного распределения примесей в полупроводниковом материале и еще по целому ряду других причин технологического характера. Срини Деядас (Srini Devadas), инженер-электронщик из Массачусетского технологического института, увидел в этих различиях полупроводниковых приборов ключ к созданию уникальной системы идентификации, не поддающейся клонированию или подделке.
Используя последовательности тестовых сигналов, проходящих через микрочип идентификации, можно получить ряд чисел, уникальных для каждого экземпляра чипа. Данная последовательность становится основой для дальнейших математических преобразований и протокола обмена информацией, основанная на принципе запрос-ответ, формируя, таким образом, уникальный код для каждого устройства идентификации. Это подразумевает то, что злоумышленнику не удастся клонировать чип RFID, даже если ему удастся перехватить и расшифровать передаваемые и принимаемые радиосигналы, из-за того, что невозможно будет идентифицировать и точно воспроизвести каждый дефект конкретного чипа.
Эти специальные идентификационные чипы, произведенные таким образом, что в них присутствует достаточное количество дефектов на атомном уровне, на самом деле являются только одной частью более сложных систем идентификации, безопасности и контроля доступа. В настоящее время компания Verayo, основанная Срини Деядас, уже заключила долгосрочный контракт с американским Министерством обороны и другими подрядчиками на создание самых совершенных в настоящее время систем идентификации RFID, использующих дефекты полупроводниковых приборов.
Источник: dailytechinfo
|
